四點探針系統(tǒng)

簡要描述：這款四點探針系統(tǒng)是一款易于使用的工具，用于快速測量材料的薄層電阻，電阻率和電導(dǎo)率。通過使用我們自己的源測量單元，我們能夠創(chuàng)建一個低成本的系統(tǒng)，使測量范圍更廣泛。探頭采用彈簧加載接觸，而不是尖銳的針頭，防止損壞精密樣品，如厚度在納米左右的聚合物薄膜。

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2024-05-16
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詳細介紹

特點：

• 廣泛的測量范圍 - 四點探頭能夠提供10 nA-100 mA的電流，并且可以測量低至100μV-10 V的電壓。廣泛的薄層電阻測量范圍，從10mΩ/□到10MΩ/□，可表征多種材料。

• 非破壞性測試 - 設(shè)計時考慮到了精密樣品的測量，四點探頭采用鍍金彈簧接觸圓頭， 60克的恒定接觸力，防止探針刺破脆弱的薄膜，同時仍能提供良好的電接觸。

• 節(jié)省空間的設(shè)計 - 通過垂直堆疊組件，我們能夠?qū)⑺狞c探頭的占地面積降至zui低（總臺面面積12 cm x 30 cm），甚至可以在缺乏貨架空間的實驗室中使用。

• 易于使用 - 只需插入系統(tǒng)，安裝軟件，即可開始使用！直觀的界面和清潔的設(shè)計，簡化了薄膜電阻的測量。

• 快速材料表征 - PC軟件可執(zhí)行薄膜電阻，電阻率和電導(dǎo)率所有必要的測量和計算，從而使材料表征變得毫不費力。

• 要忘記保存您的實驗數(shù)據(jù) - 用于測量的設(shè)置會與數(shù)據(jù)一起保存，從而輕松查看實驗的詳細信息。此外，這些設(shè)置文件可以通過相同的軟件加載，加快重復(fù)測量和材料表征。用更少的時間重復(fù)測量，您的研究成果可以顯著增加。

技術(shù)參數(shù)：

電壓范圍

100μV至10 V

當(dāng)前范圍	10 nA到100 mA
薄層電阻范圍	10mΩ/□至10MΩ/□
測量精度	< ±4%
測量精度	±0.5%

探針間距	1.27毫米
矩形樣本大小范圍	長邊zui小值：4毫米短邊zui大值：60毫米
圓形樣品尺寸范圍（直徑）	4毫米到76.2毫米
zui大樣品厚度	5毫米
總體尺寸	寬度：120毫米高度：100毫米深度：300毫米

支持的操作系統(tǒng)	Windows Vista,7,8和10（64位）
zui小顯示器分辨率	1440 x 900
建議的監(jiān)視器分辨	1920 x 1080
所需的硬盤空間	400 MB

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