18971121198
光學膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀
FR的工具基于白光反射光譜（Reports），準確同步的厚度測量及薄膜的折射率一個廣泛的多樣化的應用范圍廣泛的光電特性的工具和整體解決方案，如：
半導體、有機電子、聚合物、涂料和涂料、光伏、生物傳感、化學傳感……
FR-Scanner
聯(lián)系人：葉盛
地址：洪山區(qū)珞獅南路147號未來城A棟
郵箱：sales@mycroinc.com
傳真：歡迎您關注我們的微信公眾號了解更多信息
掃一掃
歡迎來到