MC方案｜ 白光反射光譜法（WLRS）測量薄膜疊層厚度

膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀

FR的工具基于白光反射光譜（Reports），準(zhǔn)確同步的厚度測量及薄膜的折射率一個廣泛的多樣化的應(yīng)用范圍廣泛的光電特性的工具和整體解決方案，如：

半導(dǎo)體、有機電子、聚合物、涂料和涂料、光伏、生物傳感、化學(xué)傳感…… 

FR-pRo系列