MC方案｜鈣鈦礦薄膜厚度的測(cè)量

鈣鈦礦廣泛用于太陽(yáng)能電池的開(kāi)發(fā)。由于這些類型的太陽(yáng)能電池具有良好的光伏性能，因此對(duì)它們進(jìn)行了系統(tǒng)的研究。鈣鈦礦薄膜的厚度和形態(tài)是影響太陽(yáng)能電池性能的重要因素。特別地，人們發(fā)現(xiàn)，當(dāng)鈣鈦礦的厚度小于400nm時(shí)，鈣鈦礦太陽(yáng)能電池的效率很大程度上取決于薄膜厚度；而當(dāng)鈣鈦礦的厚度大于400nm時(shí)，效率則很大程度上取決于鈣鈦礦層的薄膜形態(tài)。在本應(yīng)用說(shuō)明中，我們使用FR工具測(cè)量鈣鈦礦薄膜的厚度。

測(cè)量方法：用于表征的樣品是兩種不同厚度的CH3NH3PbBr3鈣鈦礦薄膜，它們位于標(biāo)準(zhǔn)ITO/SiO2/Soda-lime基底上，如示意圖1所示。 使用FR-Basic VIS / NIR進(jìn)行反射測(cè)量，在350-1020nm的光譜范圍內(nèi)操作。

結(jié)果：兩種樣品的典型獲得的反射光譜（黑線）和擬合的反射光譜（紅線），如FR監(jiān)控軟件所示，分別在圖2a）和b）中所示。 兩種測(cè)量方法的擬合在500-750nm光譜范圍內(nèi)進(jìn)行，樣品1中鈣鈦礦薄膜的厚度在516.9nm處測(cè)量，而樣品2中的厚度在394.4nm處測(cè)量。

圖2a）：樣品1的實(shí)驗(yàn)和擬合反射光譜。在515nm處測(cè)得的厚度

圖2b）：樣品2的實(shí)驗(yàn)和擬合反射光譜。在392nm處測(cè)得的厚度。

結(jié)論：對(duì)鈣鈦礦薄膜厚度測(cè)量的基本性能進(jìn)行了驗(yàn)證。

Reference:

1 K. Wang, C.Liu, P. Du, L. Chen, J. Zhu, A. Karim, and X. Gong, “Efficiencies of perovskitehybrid solar cells influenced by filmthicknessand morphologyof CH3NH3PbI3-xClx layer,” Org. Electron. physics, Mater. Appl., vol. 21, no. February, pp.19–26,2015.

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